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        歡迎來到深圳市京都玉崎電子有限公司!

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        技術(shù)文章/ Technical Articles

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        產(chǎn)品分類 / PRODUCT

        到貨!京都玉崎深圳倉庫到貨日本SANKO測厚儀SWT-7000Ⅲ

        更新時間:2024-03-19      瀏覽次數(shù):367

        到貨!京都玉崎深圳倉庫到貨日本SANKO測厚儀SWT-7000Ⅲ

        三月深圳倉庫到貨,歡迎咨詢!


        三月到貨深圳倉庫后,京都玉崎倉庫負(fù)責(zé)人對其驗貨,核對數(shù)量及質(zhì)量問題安排入庫,再安排人員檢驗合格后,

        均已符合出廠要求,即將發(fā)往蘇州的客戶。






        產(chǎn)品詳細(xì)介紹:

        SANKO山高SWT-7100III膜厚計

         SWT系列探頭可互換。

        ◆ 兩用型 : FN-325

        ◆ 鐵材用 : Fe 系列     

        ◆ 非鐵材 : NFe 系列

        電磁式/渦電流式膜厚計

        SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ  探頭可互換。簡易測量。

        ●可根據(jù)用途來選擇探頭。

        ●輕巧簡便。

        ●在LCD畫面上顯示操作的順序指引。

        ●4個按鍵,操作簡單。

        ●可連接電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳送。(7100Ⅲ)

        用    途

        ●涂層/襯層/鍍金

        ●耐酸層等絕緣性皮膜

        規(guī)    格

        測量范圍      連接探頭不同而不同(另賣)

        顯示方式       LCD畫面

        檢量線校正     2點校正式

        檢量線存儲     鐵·非鐵各一根

        數(shù)據(jù)傳送       USB(7100Ⅲ)

        電    源       單3電池(1.5V)×2

                      專用電源線(7100Ⅲ)

                      附帶自動關(guān)機(jī)功能

        使用溫度       0~40C°(不結(jié)露)

        尺寸重量       72(W)×30(H)×156(D)mm

                      約210g

        附 屬 品      收納袋

                     7100Ⅲ:專用電源線

                             USB連接線、USB軟件

        探    頭      根據(jù)測量金屬底材來選擇。

                    ·鐵底材用(Fe)

                    ·非鐵底材用(NFe)

                    ·鐵底材·非鐵底材兩用(FN-325)

                     (請參照專用探頭頁)

        探測頭型號

        FN-325

        測量方式

        電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)

        測量范圍

        鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm

        表示分辨率

        1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通)

             0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通)

             0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通)

        0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材)

        0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)

        測量精度

        (平滑表面)

        0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通)

        或者是指示值的±2%以內(nèi)

        101μm~3.00mm:±2%以內(nèi)(鐵底材)

        101μm~2.50mm:±2%以內(nèi)(非鐵底材)

        探測部

        1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

        選擇產(chǎn)品

        V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

        附屬品

        標(biāo)準(zhǔn)校正板、試驗用零校正板、(鐵用·非鐵用)

        測量對象

        鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

               電鍍(電解鎳除外)等

        非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

                 一般較普遍的測量物用

        SWT-7000Ⅲ系列機(jī)型

        機(jī)型

        SWT-7000Ⅲ

        SWT-7100Ⅲ

        SWT-7200Ⅲ

        測量范圍

        連接的探測頭不同測量范圍也不同。

        顯示方式

            液晶顯示LCD(數(shù)據(jù)·提示信息)、背光燈

        檢量線校正

        2點校正方式(零校正、標(biāo)準(zhǔn)校正)

        檢量線存儲

        鐵、非鐵各1根

        10根

        測量值存儲

        20,000點

        數(shù)據(jù)傳送

        USB

        USB

        統(tǒng)計功能

        內(nèi)藏

        附加功能

        ●背光燈 ●測量模式的切換(普通/連續(xù)) ●檢量線、校正值的刪除

        ●自動關(guān)機(jī)功能(約3分以上不操作時,機(jī)器會自動關(guān)機(jī)) ●分辨率的切換

        ●上下限值的設(shè)定(SWT-7200Ⅲ)

        電源

        單3電池 ×2

        單3電池 ×2     專用電源線

        使用溫度

        0~40C°(不結(jié)露)

        機(jī)體尺寸·重量

        72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

        附屬品

        干電池、收納袋子

        干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)

        追加產(chǎn)品

        鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe)

        鐵·非鐵材用探測頭(FN-325)






        SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(1)(Fe)

        型號

        Fe-2.5/2.5L

        Fe-2.5LwA

        Fe-0.6Pem

        測量方式

        電磁感應(yīng)式

        測量范圍

        0~2.50mm

        0~600μm

        表示分解率

        1μm:0~999μm

        切換

                     0.1μm:0~400μm

        0.5μm:400~500μm

                     0.01mm:1.00~2.50mm

        1μm:0~600μm

        切換

        0.1μm:0~400μm

         0.5μm:400~500μm

        測量精度

        (平滑面)

        0~100μm:±1μm

        又或者時顯示值的±2%以內(nèi)

                     101μm~2.50mm:±2%

        0~100μm:±1μm

        又或者時顯示值的±2%以內(nèi)

        101μm~600μm:±2%

        探測部

        1點定壓接觸式

        V形口套頭

          2.5:φ13×48mm

          2.5L:18×23×67mm

        1點定壓接觸式

        測量部:約20×57mm

        全長:約550~ 1.550mm

            (伸縮式)

        1點定壓接觸式

             Φ5.6×94mm

        選擇產(chǎn)品

        V形套頭/—

        (φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

        附屬品

        標(biāo)準(zhǔn)校正片

        試驗用零校正板

        (鐵用)

        標(biāo)準(zhǔn)校正片

        試驗用零校正板(鐵用)

        收納袋子

        標(biāo)準(zhǔn)校正片

        試驗用零校正板

               (鐵用)

        測量對象

        鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

        鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進(jìn)去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

        鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

        SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(2)(Fe)

        型號

        Fe-10

        Fe-20

        測量方式

        電磁感應(yīng)式

        測量范圍

        0~10mm

        0~20mm

        表示分解率

        1μm:0~999μm

        0.01mm:1~10mm

         1μm:0~999μm

        0.01mm:1~5mm

        0.1mm:5~20mm

        測量精度

        (平滑面)

        0~3mm:±(5μm+顯示值的3%)

                     3.01mm:顯示值的±3%

        探測部

        1點定壓接觸式

        V形口套頭

        φ18×47mm

        1點定壓接觸式

        V形口套頭

        φ35×59mm

        選擇產(chǎn)品

        附屬品

        標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗用零校正板(鐵用)

        測量對象

        鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

        鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

        探測頭要根據(jù)需要購買。

        SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭(NFe)

        型號

        NFe-2.0/NFe-2.0L

        NFe-06

        NFe-8

        測量方式

        渦電流式

        測量范圍

        0~2.00mm

        0~600μm

        0~8mm

        表示分解率

        1μm:0~999μm

        切換

        0.1μm:0~400μm

         0.5μm:400~500μm

         0.01mm:1.00~2.00mm

        1μm:0~600μm

        切換

        0.1μm:0~400μm

        0.5μm:400~500μm

        1μm:0~999μm

        0.01mm:1~8mm

        測量精度

        (平滑表面)

        0~100μm:±1μm

        又或者時顯示值的

        ±2%以內(nèi)

        101μm~2.00mm:

                 ±2%以內(nèi)

        0~100μm:±1μm

        又或者時顯示值的

        ±2%以內(nèi)

        101μm~600μm:

                 ±2%以內(nèi)

        0~100μm:±1μm

        ±(±1μm+顯示值的±2%)

        101μm~8mm:

                 ±2%以內(nèi)

        探測部

        1點定壓接觸式

        V形口套頭

        2.0:φ13×47mm

        2.0L:18×23×67mm

        1點定壓接觸式

        V形口套頭

        φ11×48mm

        1點定壓接觸式

        V形口套頭

        φ35×61mm

        選擇產(chǎn)品

        V形套頭/-

        附屬品

        標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗用零校正板(非鐵用)

        測量對象

        鋁、銅等非磁性金屬底材

        上的絕緣性皮膜等一般普

        通測量物用。

        鋁、銅等非磁性金屬底

        材上的絕緣性皮膜等

        細(xì)小的圓棒、細(xì)管、小

        物件等的高安定性用。

        鋁、銅等非磁性金屬

        底材上的絕緣性皮膜等

        比較厚的測量物用。

        探測頭要根據(jù)需要購買。




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